 |
реклама |
|
|
|
|
|
|
|
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика
Аннотация к статье << Назад
|
Контроль поверхности кристалла висмута после технологической обработки |
О.И.МАРКОВ, Ю.В.ХРИПУНОВ
Статья посвящена контролю состояния поверхности
монокристалла висмута после резки электроэрозионным
методом, механической полировки и химического траления. Исследования поверхности проводились методами атомно-силовой микроскопии.
Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, поверхность, висмут. E-mail: O.I.Markov@mail.ru. Стр. 56-59 |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |
