 |
advertisement |
|
|
|
|
|
|
Instruments and Systems: Monitoring, Control, and Diagnostics Annotation << Back
High temperature semiconductor pressure sensors with enhanced long-term stability |
O.I.MARKOV, JU.V. HRIPUNOV
The article is devoted to the control of a condition of a surface of a single crystal of bismuth after are sharp an electroerosive method, mechanical polishing and chemical etching. Researches of a surface were spent by methods of atomic force microscopy.
Key words: atomic force microscope, surface, bismuth. E-mail: O.I.Markov@mail.ru. Pp. 56-59 |
|
|
|
Last news:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |