|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика Аннотация к статье << Назад
Разработка функциональных тестов конвейеризованных процессоров на основе высокоуровневых моделей |
Белкин В.В., Шаршунов С.Г.
Представлена методика тестирования конвейеризованных процессоров Она основана на функциональных моделях, использует архитектуру системы команд в качестве исходных данных и позволяет разрабатывать эффективные тесты конвейеризованных процессоров, предназначенные как для верификации проектов микропроцессоров, так и для диагностики технического состояния готовых изделий. Эффективность пред-ложенной методики оценена на моделях. Контактный телефон (4232) 21-13-93.
E-mail: belkinvv@mail.ru |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |