Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика Аннотация к статье << Назад Компьютерное моделирование оптических спектров диметилсульфоксида (CH3)2SO и диметилсульфона (CH3)2SO2 для рефрактометрических средств контроля Е.Е. МАЙОРОВ, А.Ч. МАШЕК, Г.А. ЦЫГАНКОВА, М.В. ХОХЛОВА, А.В. КУРЛОВ, Т.А. ЧЕРНЯК, А.О. ФАДЕЕВ В настоящей статье представлены два важнейших растворителя диметилсульфоксид и диметилсульфон, которые перспективны для ракетно-космической, авиационной технике, а также для оптического приборостроения, в частности, промышленной рефрактометрии. Для качественного рефрактометрического контроля диметилсульфоксида, диметилсульфона и их водных растворов в производственном цикле получены достоверные количественные данные по оптическим свойствам этих веществ. Проведен детальный анализ спектра поглощения веществ методами квантовой химии, который подтвердил результаты эксперимента. Приведены результаты анализа электронных состояний диметилсульфоксида, диметилсульфона: с помощью полуэмпирической молекулярной орбитальной ресифийской модели номер 1 были получены электронные уровни этих веществ. Проанализированы спектры поглощения и пропускания в ультрафиолетовой и инфракрасной областях длин волн. Получены данные по поглощению на длине волны λ = 271 нм, что практически совпадает с экспериментальными результатами, а также спектры пропускания в инфракрасной области длин волн, которые хорошо соотносятся с опубликованными данными. Ключевые слова: ресифийская модель, ультрафиолетовый спектр, инфракрасный спектр, электронный уровень, диметилсульфон, диметилсульфоксид, промышленная рефрактометрия. Контактная информация: E-mail: majorov_ee@mail.ru Стр. 35-41.