EN | RU    
Издательство научно-технической литературы
Поиск по сайту:

На главную»

Контакты»

Журналы»

Новости»

Оформление статей»

Реклама в журналах»

Обратная связь»

Книги»

О фирме»



 реклама



Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика

Аннотация к статье
<< Назад
Методический аппарат тестово-кодовой коррекции ошибок оперативных запоминающих устройств
А.А. ПАВЛОВ, И.В. РОБЕРТ, А.Н. ЦАРЬКОВ, П.А. ПАВЛОВ, Д.Е. СОРОКИН, А.А. БУРМИСТРОВ, Д.Д. ИВАНОВ

Предложен метод тестово-кодовой коррекции ошибок оперативных запоминающих устройств, который заключается в том, что для обнаружения возникающих ошибок используется алгебраический линейный код, а определение конфигурации (ошибочных разрядов) одиночных двойных ошибок и их коррекция проводятся по значению синдрома ошибки и результатам анализа ответной реакции, полученной на основе подачи тестового воздействия. Предлагаемый тестово-кодовый метод обнаружения и коррекции ошибок в отличии от известных позволяет:
• корректировать 100% одиночных ошибок;
• корректировать двойные ошибки в информационных блоках;
• иметь минимальную информационную избыточность (два контрольных разряда при любом числе информационных разрядов);
• обеспечить высокую достоверность функционирования (обнаруживать 100% возможных ошибок, включая ошибки,
трансформируемые в разрешенные (безошибочные) кодовые наборы);
• обнаруживать скрытые ошибки;
• минимизировать аппаратурные затраты на построение декодирующего устройства (не требует хранения таблицы синдромов ошибок и использует минимальную таблицу поправок);
• исключает методическую ошибку декодирования (характерную для большинства декодирующих устройств, реализующих метод “максимума правдоподобия”, когда ошибки различной кратности, имеющие одинаковый синдром и принадлежащие одному смежному классу, корректируются исходя из кодового расстояния выбранного линейного кода);
• минимизировать временные затраты на коррекцию ошибок (требуется подача одного тестового воздействия, которое может подаваться только при обнаружении ошибок).
Ключевые слова: корректирующий алгебраический линейный код, корректирующий циклический код, одиночные и двойные ошибки, скрытая ошибка, поправка на скрытую ошибку, тестовый вектор ошибок.

Контактная информация: E-mail: Pavlov_iif@mail.ru

Стр. 17-24.

 разделы

«О журнале

«Архив журнала

«Тематическая направленность журнала

«Правила оформления статей

«Этапы рассмотрения и публикации статей

«Правила рецензирования статей

«Редакционная и профессиональная этика

«Обнаружение плагиата

«Редакция и редакционная коллегия

«Новости журнала


 журналы
...................................
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика
...................................
Приборостроение и средства автоматизации. Энциклопедический справочник
...................................
Промышленные АСУ и контроллеры
...................................
Экологические системы и приборы
...................................
Авиакосмическое приборостроение
...................................
Инженерная физика
...................................
История науки и техники
...................................
Музыка и время
...................................
Нотный альбом
...................................
Музыковедение
...................................
Бюллетень Главного ботанического сада
...................................
Всеобщая история
...................................
Справочник инженера
...................................
Прикладная физика и математика
...................................
Известия академии инженерных наук им. А.М. Прохорова
...................................

Последние новости:

Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге

Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg

Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018»

ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы

Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018"

   Rambler's Top100 Rambler's Top100         


    Система управления разработана в: ananskikh.ru
© Издательство "НАУЧТЕХЛИТИЗДАТ", 2005-2021