|
advertisement |
|
|
|
|
|
|
Instruments and Systems: Monitoring, Control, and Diagnostics Annotation << Back
Compensation for thin-film component systematic errors by mask elements |
Spirin V.G.
Several methods of compensation for systematic errors of the thin-film resistor design values which define the yield of effective micromodules are discussed. The compensation by means of changing dimensions of mask elements using certain algorithms is proposed that permits to reduce dimensions of all the thin-film components without reduction of the yield of effective micromodules. Keywords: compensation of systematic errors, thin-film elements, output suitable micro modules. E - mail: kitres@apingtu.edu.ru. |
|
|
|
Last news:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |