|
advertisement |
|
|
|
|
|
|
Instruments and Systems: Monitoring, Control, and Diagnostics Annotation << Back
Modeling for the methods and tools of multivariate measurement via sensors on elemental semiconductors. |
Gusev O.K., Vorobey R.I., Svistun A.I., Tyavlovskiy K.L., Tyavlovskiy A.K., Yarzhembitskaya N.V.
The article contemplates the methodology of multivariate measurement via sensors on elemental semiconductors. It formulates and substantiates the fitness of multivariate measurement for physical phenomenon or effects originating from object’s interaction with sensor to procedure of one-signal adaptive measurements. Suggested multivariate measurement algorithm provides development of the measurement methods based on one-signal adaptive models. The modeling example is given.
Key words: multivariate measurements, sensors on elemental semiconductors, one-signal adaptive models.
Контактный телефон (+37517) 292-67-94. |
|
|
|
Last news:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |