|
advertisement |
|
|
|
|
|
|
Instruments and Systems: Monitoring, Control, and Diagnostics Annotation << Back
The model of selecting optimal test strategy and conditions of ICs testing during manufacturing |
S.G. MOSIN
The model of selecting optimal test strategy for IC based on economical estimation has been proposed. The possibility of the model application for choose the test patterns providing some minimization of ICs manufacturing cost with high yield has been shown.
Key words: integrated circuits, testing, manufacturing and test cost, modeling, test patterns. |
|
|
|
Last news:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |