|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика Аннотация к статье << Назад
Диагностика многопараметрического технологического процесса с использованием контрольных карт на глав-ных компонентах |
Клячкин В.Н., Константинова Е.И.
Для диагностики нарушений технологического процесса, качество которого определяется множеством коррелирован-ных показателей, в статье предложено использовать контрольные карты на главных компонентах. Контактный телефон (8422) 43-91-28.
E-mail: kl@ulstu.ru |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |