|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика Аннотация к статье << Назад
Система фотометрического анализа структурных изображений и ее применение для исследования материалов в условиях усталости |
Ермишкин В.А., Мурат Д.П., Подбельский В.В.
В статье описывается методика построения кривых усталости по данным испытаний малой серии плоских образцов в условиях консольного изгиба. Кривая усталости строится по результатам сравнительного анализа локальной поврежденности поверхности исследуемого образца и соответствующих значений действующих напряжений. В основе применяемого подхода лежит совместный анализ изображений фрагментов поверхности исследуемого образца материала и соответствующих этим фрагментам спектров отражения белого света. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |