|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика Аннотация к статье << Назад
Контроль качества платы тонкопленочной микросборки |
Спирин В.Г.
Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, основанный на результатах измерения сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей.
Ключевые слова: тонкопленочные платы, инструментальные погрешности, метод оценки качества, сопротивления резисторов. Контактный телефон (83147) 4-41-20.
E-mail: spvl@ugnn.ru |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |