 |
реклама |
|
|
|
|
|
|
|
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика Аннотация к статье << Назад
|
Наземный септометрический метод измерения
индекса листовой площади растительности |
Ф.Г. АГАЕВ, М.Э. ОМАРОВ
Статья посвящена разработке нового септометрического метода наземного измерения индекса листовой площади растительности. Предлагаемый метод предусматривает проведение наземных фотометрических измерений LAI без необходимости измерения оптического потока
на уровне верха кроны. Для проведения измерений используется модифицированная формула Менси и Саки, где в качестве поступающей
радиации используется внеатмосферная солнечная радиация. Целью проводимого исследования является разработка методики определения
LAI без проведения измерения оптической радиации, поступающий на крону растения при условии наличия априорно известных данных о
степени корреляции между LAI и коэффициентом экстинкции. При проведении вычислений по этим формулам в качестве значения коэффициента экстинкции могут быть использованы данные, приведенные в соответствующих таблицах. Показано, что замена поступающей в
крону радиации на радиацию поступающей в почву вне контура проекции кроны позволяет разработать методику определения LAI, для реализации которой нет необходимости проведения измерения поступающей на крону радиации. Приведены формулы для вычисления LAI для
случая наличия положительной или отрицательной корреляции между LAI и коэффициентом экстинкции.
Ключевые слова: септометр, оптические измерения, индекс листовой поверхности, крона растительности, корреляция.
DOI: 10.25791/pribor.3.2025.1564
Стр. 26-30. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |