 |
реклама |
|
|
|
|
|
|
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика Аннотация к статье << Назад
Онтологический подход к организации учебного процесса на основе разработки и использования обучающих интегрированных экспертных систем |
Г.В. РЫБИНА, Е.С.СЕРГИЕНКО, И.А. СОРОКИН, А.С. БЕЛОВА, Т.В.БОЧКОВА
Анализируется опыт разработки и использования в учебном процессе НИЯУ МИФИ обучающих интегрированных экспертных систем, созданных на основе задачно-ориентированной методологии и инструментального комплекса АТ-ТЕХНОЛОГИЯ. В центре внимания данной работы – место, роль и особенности интеграции онтологий курсов/дисциплин с другими компонентами обучающих интегрированных экспертных систем.
Ключевые слова: интеллектуальные обучающие системы, обучающие интегрированные экспертные системы, онтологии курсов/дисциплин, модель онтологии, модель обучаемого, модель обучения, комплекс АТ-ТЕХНОЛОГИЯ.
Контактная информация: E-mail: galina@ailab.mephi.ru
Стр. 13-24. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |