|
advertisement |
|
|
|
|
|
|
Instruments and Systems: Monitoring, Control, and Diagnostics Annotation << Back
Way of division thyristor’s on reliability with use of low-frequency noise and the x-ray irradiation |
M.I. GORLOV, D.J. SMIRNOV, E.A. ZOLOTARYOVA
Ways of division thyristor’s on reliability with use of parameters of low-frequency of noise are resulted at influence of x-ray irradiation.
Key worlds: the semi-conductor device, doze, thyristor, noise, parameters, reliability, experiment.
E-mail: dmitry.inf@mail.ru
Стр.50-51
|
|
|
|
Last news:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |